Atomic Force Microscopes (AFM).

HITACHI hat sich als weltweit führendes Unternehmen in der Entwicklung von anspruchsvollen, fortschrittlichen und hochwertigen Elektronenmikroskopen bewährt. Dazu gehören auch innovative Rastersondenmikroskopie Produkte, die ein breites Anwendungsspektrum von der Oberflächentopographie bis hin zu einer Vielzahl von nanoskaligen Oberflächeneigenschaftsmessungen abdecken.

AFM 5000 II

Probe Station / Real TuneII

Das AFM5000II umfasst ein Steuerungs- und Software-Paket, um eine Fülle von erweiterten Bildgebungsformen und Datenanalysen zu ermöglichen.

AFM 5100 N

General-purpose Small Unit

HITACHIs Allzweck-Atomkraftmikroskop, Modell AFM5100N, zeichnet sich durch eine hervorragende Bedienerfreundlichkeit, eine breite Palette an Fähigkeiten und außergewöhnliche Leistung aus.

AFM 5300 E

Environment Control Unit

Das AFM5300E bietet deutlich verbesserte Empfindlichkeit, Genauigkeit und Auflösung von elektromagnetischen Eigenschaften. Messungen werden unter Hochvakuum Bedingungen durchgeführt.

AFM 5500 M

Scanning Probe Microscope

Die AFM5500M ist eine SPM-Plattform, die mit einer vollständig adressierbaren 4-Zoll-Bühne ausgestattet ist, die für mittelgroße Proben optimiert ist.

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