Regulus Serie

ICON Beschleunigungsspannung SU3800.jpg

Kalter Feldemitter

eine stabile kalte Feldemissionsquelle mit 10 Jahren Lebensdauer

 

Hohe Auflösung bei geringen Strahlenenergien

Regulus8220/8230/8240: 0.7 nm/1 kV; Regulus8100: 0.8 nm/1 kV

Immersionslinse

mit dualem energiegefiltertem Inlens Detektorensystem

 

Flexible Signaltrennung

bis zu 4 Signale parallel einstellbar

 

Unterstützt optimal EDX Analytik

Bestleistungen im analytischen Bereich

Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/3900 von Hitachi High-Technologies bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Sie decken typische klassische und automatisierte Anwendungsfelder in der Industrie bestens ab. Die Geräte sind anwenderfreundlich und bestechen durch eine große analytische Probenkammer,  einer für den Probenwechsel vollständig aus der Kammer herausziehbaren Bühne, dem als Standard verfügbaren Niedervakuummodus und besonders mit einer anwendungsnahen und überlegenen Abbildungsqualität bei mittleren und geringen Strahlenergien. Als Großkammer-REM ausgelegt können mit dem SU3900 Proben mit einem Durchmesser von 300mm und einer Höhe von 130mm beobachtet werden.

Broschüre zum Download:

 

 

HITACHI SU3800/3900 Broschüre