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Transmission Electron Microscopes (TEM/STEM).
HITACHI hat sich als weltweit führendes Unternehmen in der Entwicklung von anspruchsvollen, fortschrittlichen und hochwertigen Elektronenmikroskopen bewährt. Dazu gehören auch Transmissions-Elektronenmikroskope und Hybridvarianten wie Feldemissions-Transmissions Elektronenmikroskope oder Scanning transmission electron microscopes (STEM).
HF-5000
Spherical Aberration Corrected STEM/SEM
Die neue hochstabile Cold FEG verwendet eine vollständig neu entwickelte Version der seit langem etablierten Cold-Field-Emission-Elektronenquellentechnologie von Hitachi. Die Integration der Technologien der HF Serie in eine neue 200-kV-TEM / STEM-Plattform, führt zu einem Instrument mit einer optimalen Kombination aus Bildgebung unter Analyse und Analyse.
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