Probenvorbereitung.

Für die Untersuchung von Proben mittels eines Rasterelektronenmikroskops sind zwei Dinge zu beachten, um gute Ergebnisse zu erhalten:

  1. Da eine REM-Untersuchung im Vakuum stattfindet, muss die zu untersuchende Probe vakuumstabil sein. Dazu ist es beispielsweise notwendig, dass sie wasserfrei ist und somit auch kein Wasser ausgasen kann.

  2. Die Probe sollte nach Möglichkeit elektrisch leitfähig sein, um einen hohen Sekundärelektronenstrom (und damit einen guten Kontrast) zu erhalten.
     

Die erste Bedingung ist für anorganische Substanzen in der Regel unproblematisch. Für organische Substanzen muss hier allerdings viel Wert auf die Probenvorbereitung gelegt werden. Für die Vakuumstabilität anorganischer Substanzen sind weitere präparative Maßnahmen zur Trocknung der Probe erforderlich. Die reine Lufttrocknung scheidet hierbei oftmals aus, da es dabei durch den Übergang von flüssiger Phase in die Gasphase und der damit einhergehenden Volumenänderung zum Aufbrechen der Feinstrukturen an der Oberfläche der Probe kommen kann, die man ja gerade mittels REM untersuchen möchte. 

 

Die zweite Bedingung - eine gute elektrische Leitfähigkeit – ist besonders dann problematisch, wenn man elektrische Isolatoren untersuchen möchte. Dabei kann es zu lokalen Aufladungen der Probe kommen, wodurch die Menge der abgestrahlten Sekundärelektronen geringer ausfällt und damit auch der Kontrast des Bildes schlechter wird. Hier behilft man sich damit, elektrisch leitende Schichten aus Gold, Palladium oder auch aus Graphit auf die Oberfläche der Proben durch Sputtern oder durch Verdampfen aufzubringen. t die Probe schonend.

IM5000 ArBlade

Ion Milling System

Die neueste Generation IM5000 ArBlade ist mit verbesserter Schnittgeschwindigkeit ausgestattet. Das Gerät nutzt ein breites, energiesparendes Ar + Ionenstrahlverfahren, um ein unverzerrtes Querschnittsfräsen oder Flachfräsen ohne Beanspruchung der Probe zu ermöglichen.here

IM4000 Plus

Ion Milling System

Das HITACHI IM4000 ist ein Ionenstrahlpoliersystem (kurz Ionenmühle), bei welchem die vorzubereitende Oberfläche von oberflächlichen Kontaminationen gereinigt wird. Diese Verunreinigungen können beispielsweise durch die vorangegangenen Probenvorbereitungsschritte (Schleifen, Polieren) oder durch Oxidation verursacht sein. Die IM4000 bietet als Hybridmodell die Möglichkeit des Cross Section- sowie des Flat Millings in einem einzigen Instrument. 

ZONESEM & ZONETEM

Sample Cleaner

Der ZONE-Reiniger ist ein leistungsstarkes und einfaches Werkzeug zur Entfernung der Kohlenwasserstoff-Kontaminationen von Elektronenmikroskop-Proben. ZONE ist ein einfach zu bedienendes Reinigungsgerät während des Probenvorbereitungsprozesses, um die bestmöglichen Ergebnisse für Ihre SEM- oder TEM-Proben zu gewährleisten.

MC 1000

Ion Sputter

Die Ionenstrahl-Sputteranlage MC1000

Please reload

© 2019 by VIDEKO GmbH. All rights reserved.

Visit us.
Handelsstraße 14
2512 Tribuswinkel

 

Contact us.

Tel.: +43 2252 93 1800
Email: office@videko.at